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涂层测厚仪要注意哪些影响?

来源:http://www.uv-speedre.com时间:2021-06-08点击:0次

       涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

涂层测厚仪

       涂层膜厚仪(测厚仪)基体金属的磁性:

       1.磁厚度测量受基体金属磁变化的影响(在实际应用中,低碳钢的磁变化可以认为很小)。为了避免热处理和冷加工因素的影响,仪器应使用与测试件的基体金属具有相同性能的标准件进行校准。待涂覆的试件也可用于校准。

       2.基体金属的电学性质

       基体金属的电导率影响测量,而基体金属的电导率与其材料成分和热处理方法有关。用与测试件的基体金属具有相同特性的标准件校准仪器。

       3.基体金属厚度

       每种仪器都有一个基体金属的临界厚度。超过这个厚度,测量不受基体金属厚度的影响。

       4.边缘效应

       这种仪器对样品表面形状的突然变化很敏感。因此,在样本的边缘或内角附近进行测量是不可靠的。 

       5.曲率

       试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而明显增大。因此,弯曲试样表面的测量是不可靠的。

       6.试样变形

       7.表面粗糙度

       基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加,影响增加。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。在每次测量期间,应增加不同位置的测量次数,以克服此类意外误差。

       8.磁场

       各种周围电气设备产生的强磁场会严重干扰磁法测厚。

       9.附着物质

       10.探头测时压力

       11.涂层膜厚仪(测厚仪)探头方向

       探头的位置会影响测量。测量时,探头应保持垂直于样品表面。